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- Zeta電位測試
測試范圍 | -500mv ~ 500mv | 粒度范圍 | 1nm-9500nm(與樣品有關(guān)) |
樣品池容積 | 400μl | 測試原理 | ELS(電泳光散射) |
散射角 | 15 度 | 大濃度 | 40% w/v |
相關(guān)器 | 1000通道線性相關(guān)器 | 電導率范圍 | 200 mS/cm |
- 粒度分布測試
粒度測試范圍 | 1-9500nm(與樣品有關(guān)) | 測試原理 | DLS( 動態(tài)光散射) |
重復性誤差 | ≤1%(國標樣D50 偏差) | 相關(guān)器 | 1000 個物理通道 |
準確性誤差 | ≤1%(國標樣D50 偏差) | 光源 | 固體激光器 |
樣品池容積 | 1ml / 4ml | 激光器波長 | 671nm |
樣品池溫控范圍 | 15℃—90℃ | 激光器功率 | 50mW |
溫控精度 | ±0.2℃ | 散射角 | 90 度 |
- 分子量測試
分子量范圍 | 1000Da—2x107Da | 準確性誤差 | ≤ 10% |
測試原理 | SLS(靜態(tài)光散射) | 重復性誤差 | ≤ 5% |
三,、主要應用領(lǐng)域
包括納米金屬氧化物,、水處理、納米金屬粉,、納米陶瓷材料,、蛋白質(zhì)、聚合物膠乳,、藥物制備,、水/ 油乳液 、油漆,、涂料,、顏料 、油墨,、調(diào)色劑 ,、化妝品以及其它所有納米材料研究、納米材料制備與納米材料應用等領(lǐng)域,。
四,、突出特點
- BT-Zeta100電位測量采用電泳光散射(ELS)原理,通過測量顆粒在電場中的運動速度進而得到zeta電位,。一般來說,,zeta電位越高,顆粒之間相互排斥越劇烈,,分散體系越穩(wěn)定,。
- 納米粒度分布測量采用動態(tài)光散射(DLS)原理,顆粒在懸浮液中進行布朗運動,,較小顆粒的移動速度快于較大顆粒,,在某個角度檢測記錄散射光強,散射光強的相關(guān)曲線體現(xiàn)了顆粒的移動速度,,利用這些信息可以計算顆粒的粒度分布,。
- 分子量測量采用靜態(tài)光散射(SLS)原理,散射光的強度與分子量直接相關(guān),。測量不同濃度中測量散射光強,,繪制德拜曲線即可得到樣品分子量,。
五、良好的重復性
- 穩(wěn)定的折疊光路系統(tǒng)
- 高速數(shù)據(jù)采集與轉(zhuǎn)換模塊
- 高精度樣品池定位組件
六,、良好的準確性
- 粒度測試準確性:用100nm 標準樣品測試,,結(jié)果為101nm,誤差范圍為1%,,遠遠小于標準ISO13321 允許誤差10% 的要求,。
- Zeta 電位測試準確性:用-55mv 標準樣品測試,結(jié)果為-59.7994mv,,誤差范圍為8.7%,,小于標準ISO13099 允許誤差10% 的要求。
- 分子量測試